本文標(biāo)題:離子減薄參數(shù)進(jìn)行減薄的過程

離子減薄參數(shù)進(jìn)行減薄的過程

透射電子顯微鏡用磨坑儀在圓片中央部位磨成一個凹坑，凹坑深度約
50-70為止，凹坑目的主要是為了減少后序離子減薄過程時間，以提
高最終減薄效率。

透射電子顯微鏡將潔凈的已凹坑的3厘米的圓片小心放入離子減薄儀
中，根據(jù)試樣材料的特性檢測。

透射電子顯微鏡選擇合適的離子減薄參數(shù)進(jìn)行減薄，通常一般陶瓷樣
品離子減薄時間需整個過程約5天。

顯微鏡如粉末是黑色，則當(dāng)微柵網(wǎng)周圍的白色濾紙表面變得
微黑，此時便適中。

將本頁加入收藏

下一篇：透射電子顯微鏡吸取粉末和乙醇的混合液 　　　　　 上一篇：顯微鏡的調(diào)整焦位置

本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://www.rcik.cn/xinwen/1184.html 　
工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科