本文標題:試樣斷口如何形成簡單分析斷口顯微鏡研究分析結構（之二）
信息分類:信息交流 新聞來源：未知 發布時間：2015-11-4 10:02:21
試樣斷口如何形成簡單分析斷口顯微鏡研究分析結構（之二）
如果說利用電子顯微鏡對斷口進行分析的話，那么其
研究組織精細方面的特征結構就被稱為是顯微斷口分析，
這樣的技術是主要針對的是斷口的分析，特別是金屬
材料方面研究比較多，如斷開的機理、表面組織，以及其
工藝方面的制作，只要出現破損的現象，都可以
用這樣的方法進行分析的，
顯微斷口分析的技術借助的是掃描式電子顯微鏡的功
能，依靠的是一次電子光束，如果研究的斷口是表面結構
，而且是連續移動的情況，那么需要通過發射光進行觀
測，這樣的成像形成利用就是二次電子流，
一般情況下，掃描電子顯微鏡的分辨率是有標準的，
通常是在15-20納米，這樣的分辨率是沒有透射電鏡高的。
將本頁加入收藏
下一篇：如何對毛坯圖進行分析研究顯微鏡檢測中其作用如何（一）
上一篇：試樣斷口如何形成簡單分析斷口顯微鏡研究分析結構（之一）
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://www.rcik.cn/xinxijiaoliu/1925.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
